透镜中心厚度光学检测仪

一、非接触式厚度仪测量原理：
设备主要包括光源、光谱仪、光纤光路以及光学探头组成。其中光源为稳定、宽光谱光源，可
选的光源可以是白色的 LED 灯以及卤钨光源等；经过多模光纤的传输到达光阑，光学探头对多色光
聚焦在物方不同距离，形成较大的色散离焦量。在放入待测零件之前，由于没有反射光，因此光谱仪
探测只有背景信号。若以平板玻璃放入探头的测量范围之内，光线路径待测零件的两个表面，零件的上
下表面刚好对两种不同色光形成自准直，因此反射回去的光能量完全进入光阑；而其它色光则在光阑
处形成大于光阑的弥散斑，故光谱相应的各个色光的能量曲线形成两个尖峰，两个峰值处所对应的波
长对应了待测零件的厚度。
二、产品特点：
1、光学非接触式测量，杜绝被测物表面的损伤；
2、测量精度高，较高精度可以精确到 0.1 微米，产品重复性稳定；
3、检测速度快，检测响应时间 1 秒以内，测量读数即时呈现；
4、强大的玻璃数据库，快速简便的实现玻璃数据调用；
5、软件可设定公差范围，可实现测量结果判定及测量数据记录。